非接觸方塊電阻測(cè)試系統(tǒng)

產(chǎn)品簡(jiǎn)介
LEI88 是針對(duì)科研類客戶開(kāi)發(fā)的產(chǎn)品，具備非接觸快速測(cè)試方塊電阻和電導(dǎo)率功能。

產(chǎn)品型號(hào)：LEI88

更新時(shí)間：2025-05-07

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

訪問(wèn)量：530

產(chǎn)品咨詢 18117546256

產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

半導(dǎo)體材料測(cè)試

體微缺陷測(cè)試霍爾電阻遷移率光伏光致發(fā)光深能級(jí)瞬態(tài)譜測(cè)試橢偏拉曼AFM 半導(dǎo)體多功能測(cè)試 CV測(cè)試系統(tǒng)集成測(cè)試儀器租賃

查看全部產(chǎn)品

相關(guān)文章

這份資料幫助你快速了解氦氖激光器的三種主要結(jié)構(gòu)

頻譜分析儀的使用操作特點(diǎn)了解下呢

一篇文章詳細(xì)解讀介質(zhì)膜寬帶反射鏡的設(shè)備特點(diǎn)和注意事項(xiàng)

共聚焦拉曼光譜儀在材料科學(xué)研究中的應(yīng)用

詳細(xì)介紹在線留言

Capability:

非破壞
方塊電阻/電導(dǎo)率測(cè)試
適合科研應(yīng)用

上海波銘科學(xué)儀器有限公司主要提供光譜光電集成系統(tǒng)、晶萃光學(xué)機(jī)械和光學(xué)平臺(tái)、激光器、Edmund 光學(xué)元件、Newport 產(chǎn)品、濱松光電探測(cè)器、卓立漢光熒光拉曼光譜儀、是德 Keysight 電學(xué)測(cè)試系統(tǒng)、大塚 Otsuka 膜厚儀、鑫圖科研級(jí)相機(jī)、Semilab 半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備及高低溫探針臺(tái)系統(tǒng)。經(jīng)過(guò)多年的發(fā)展，上海波銘科學(xué)儀器有限公司在市場(chǎng)上已取得了一定的地位。我們的產(chǎn)品和服務(wù)在行業(yè)內(nèi)具有較高的知zhi名度和美譽(yù)度，客戶遍布全國(guó)。我們將繼續(xù)努力，不斷提升市場(chǎng)地位和影響力。

上一個(gè)：非接觸Hall和方塊電阻測(cè)試系統(tǒng)