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當前位置:首頁產品中心光譜系統顯微缺陷膜厚相位差測量裝置 RETS-100nx New

相位差測量裝置 RETS-100nx New

產品簡介

采用了偏光光學系和多通道分光檢出器

有可對應各種尺寸的裝置,從1mm大小的光學素子到第10代的大型基板

安全對策和粒子對策,可對應液晶line內的檢查設備

產品型號:
更新時間:2025-05-07
廠商性質:生產廠家
訪問量:314
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產品信息

特 點

● 采用了偏光光學系和多通道分光檢出器
● 有可對應各種尺寸的裝置,從1mm大小的光學素子到第10代的大型基板
● 安全對策和粒子對策,可對應液晶line內的檢查設備

測量項目

● 封入cell gap
● twist角
● rubbing角
● pretilt角[TN,IPS,FFS,MVA]
● 空cell gap
● 相位差(復折射相位差)的波長分散
● 光學軸
● 橢圓率/方位角
● 三次元折射率/Rth/β
● 分光光譜/色度

測量對象

● 液晶cell
- 透過、半透過型液晶cell(TFT、TN、STN、IPS、VA、OCB、強感應電)
- 反射型液晶cell(TFT、TN、IPS、VA)
● 光學材料
- 其他(相位差?橢圓?偏光膜、液晶材料)

仕 樣

型號RETS series
樣品尺寸20mm×20mm ~ *
cell gap測量范圍0.1μm ~ 數10μm
cell gap重復性±0.005μm
檢出器多通道分光光度計
測量波長范圍400nm ~ 800nm
光學系
透過用偏光子unit
偏光光學系
消光比 10-5內置Gran-tomson prism(方解石)
自動旋轉(角度精度0.1°)、自動裝卸機構
測量口徑φ2, φ5, φ10 (mm)
光軸傾斜機構-20 ~ 45°、-45 ~ 45°等

* 大型玻璃基板也可用(2000mm×2000mm以上)

測量案例

相位差與液晶層間隙值

相位差測量裝置 RETS-100nx New

液晶面內分布圖

相位差測量裝置 RETS-100nx New


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