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紫外分光全光譜光通量測量系統(tǒng)

產品簡介
●具有高靈敏度檢測器的寬測量范圍

●具有紫外線自吸收校正的高精度測量

●配備溫度控制單元，可從-110&deg;C進行溫度控制

●涵蓋從紫外線到可見光的波長范圍

●電源、溫控單元、測量儀軟件批量控制

產品型號：

更新時間：2025-05-07

廠商性質：生產廠家

訪問量：366

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產品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

光譜系統(tǒng)

顯微缺陷膜厚半導體晶圓缺陷檢測儀高光譜測試系統(tǒng) 瞬態(tài)吸收系統(tǒng) 太陽能電池量子效率太陽光模擬器IV系統(tǒng) 顯微光電流成像系統(tǒng) 探測器光響應度系統(tǒng) 光譜變溫附件探針臺拉曼SERS增強試劑顯微熒光系統(tǒng) 組合熒光系統(tǒng) 鏡頭透過率測試系統(tǒng) 漫反射率測試系統(tǒng) 反射、吸收率系統(tǒng) 成像亮度計標準燈參考輻射定標電致發(fā)光系統(tǒng) 常規(guī)發(fā)射光譜系統(tǒng) 共聚焦拉曼光譜儀

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產品信息

評價項目

輻射通量、光譜輻射通量

殺菌效果^*1

峰值波長，半高寬

基于總光通量測量系統(tǒng)的測量項目

總光通量、三刺激值XYZ、色度坐標xy、uv 、u’v’相關色溫、Duv、主波長、刺激純度顯色指數、等色標準偏差

光子量、外量子效率、發(fā)光效率* 根據紫外線輻射傷害作用函數計算

規(guī)格

紫外分光全光譜光通量測量系統(tǒng)

* 1：參考值。根據使用 220-850 nm 檢測器的 A 光源測量結果估算
* 2：參考值。從 250-400 nm 測量中估計的帶有 220-850 nm 檢測器的 A 光源
* 3：可作為選項支持的項目
* 4：對于可選產品，請參閱總光通量測量系統(tǒng)的規(guī)格頁面。

設備配置

基本配置

紫外分光全光譜光通量測量系統(tǒng)

探測器、光纖和積分球的配置，包括數據處理單元。
樣品的可選溫度控制溫度表征也是可能的。

測量示例

UV-LED 測量結果 (λp = 280nm)

這是測量深紫外 LED（峰值波長 280 nm）的示例。
通過使用高靈敏度檢測器，可以以良好的重現性測量峰值波長。
也可以在沒有噪聲成分的情況下評估波形。
此外，
還可以結合紫外線輻射損傷作用函數來計算LED 的殺菌效果。

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基本配置

測量示例

UV-LED 測量結果 (&lambda;p = 280nm)

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產品簡介
●具有高靈敏度檢測器的寬測量范圍

●具有紫外線自吸收校正的高精度測量

●配備溫度控制單元，可從-110°C進行溫度控制

●涵蓋從紫外線到可見光的波長范圍

●電源、溫控單元、測量儀軟件批量控制

UV-LED 測量結果 (λp = 280nm)